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利用電子探針SEM和光電子能譜儀EDS對鍍層成分或者表面污點進行成分分析。
適用范圍:
1、金屬及非金屬表面涂、鍍層各層的成分分析,采用精密分析設備電子探針,對各層成分進行分析,取樣方式為切面法,對各層進行高倍放大進行點和面的分析,最薄的覆蓋層厚度可以到0.1μm,優點是其分析精度高,采樣直接有代表性。
2、表面污點的成分分析,分析設備為光電子能譜儀,通過與電子探針聯合運用,可以對樣品進行表面的點分析和面分析,對比分析可以知道材料表面污染造成的原因。
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